金相顯微鏡(高倍顯微鏡)

優勢
CX43M 編碼型金相顯微鏡，將硬體設計與影像分析軟體整合一起，螢幕直接顯示物鏡的放大倍率，切換倍率時也能自動調整軟體中記錄的校正值，杜絕忘記切換軟體倍率所造成的測量錯誤。
CX43M 亮度控制記憶功能，能夠記憶在使用每個物鏡時的照明亮度，當不同物鏡相互轉換時， 自動對光強進行調節，減少視覺疲勞，提高工作效率。
光學系統 : 無限遠色差校正光學系統
目鏡 : 超高解析視野平場目鏡10X/23mm，視度可調
物鏡 : 明暗視野半複消色差金相物鏡5X、10X、20X、50X
鼻輪 : 明暗視野5孔電動
基座：。平台大小：240x175mm
工作台面：135x125mm
玻璃台面：101x101mm
移動範圍：75x50mm
粗調行程: 粗調行程30mm,微調精度0.001mm
防止下滑的調節鬆緊裝置和隨機上限位元裝置。
內置100-240V寬電壓系統，採用數字調光，具有光強設定與復位功能。

商品說明:
光學系統 : 無限遠色差校正光學系統
目鏡 : 超高解析視野平場目鏡10X/25mm，視度可調
物鏡 : 明暗視野半複消色差金相物鏡5X、10X、20X、50X
鼻輪 : 明暗視野5孔電動
基座：
100x100mm, 150x100mm, 200x150mm, 355x300mm。
粗調行程25mm, 微調精度0.001mm。
防止下滑的調節鬆緊裝置和隨機上限位元裝置。
內置100-240V寬電壓系統，採用數字調光，具有光強設定與復位功能。

輔助對焦系統,對焦符號 安裝於高倍顯微鏡，透過半月形符號去輔助對焦，讓Z軸量測精度2um以內

符合 SEMI S2 / S8 CE及 UL 國際規範標準，專為無塵室工作環境下降低晶圓樣本受汙染破損之風險機率，採用先進的光學成像技術能力及舒適人體工學設計大型載物台專用 300 x 300mm 機種
MX63 光學顯微鏡系統透過最佳化設計，運用於最大尺寸 300mm 的晶圓、17吋以上平板顯示器、印刷電路板及其他大尺寸樣品的高質量觀察檢測

採用的模組化設計，讓操作人員選擇所需的組配件可訂制化的光路光學系統
符合人體工學設計，提高品檢製造上工作效率並做到操作人性化及舒適性
搭載 PRECiV 影像軟體從取樣、觀察拍照、測量、記錄到建立流暢精準觀測報告
暗場觀察 MIX 其他觀察方法 讓不可見影像清晰可見

明場、螢光或偏光方式結合生成獨特影像，能夠看到以前傳統顯微鏡難以看到的缺陷
暗場觀察的 LED 照明裝置具有照射 4 種象限可變換照射方向，減少樣品光暈使樣本表面紋理層次明顯可見

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特點
• 比較傳統只用對比偵測方式 LV - DAF 對焦範圍更大；特別是應用於 LCD 基板，可以更快速對焦。
• LV - DAF 使用白色的 LED 光源，可隨著待測物對光線反射率的強弱而自行調整自動對焦之燈源亮度。
• 提供明視野，暗視野及干涉相位差之觀察，可選擇反射式(上光源)及穿透式(上光源)之燈源。
• 自動程式化調整，可依照產品種類之不同設定 10 組最適合之參數狀態；設定簡易快速。
• LV - DAF 可經由 USB 或 RS232 port 由電腦控制或由 Nikon DS - L4 數位照相系統驅動。
• LV - DAF 可搭配其他 Nikon LV 系列產品使用；當結合 Nikon 特有的 LV - ECON 使用時，可觀察特定之待測物並將其調整至最適狀態。
• Nikon 提供 SDK(software development kit：軟體開發套件)，可輕易整合或支援不同系統及客製化機台使用。
規格
• 偵測系統：Nikon 複合式自動對焦系統結合裂隙光學投影及對比偵測。
• 自動對焦光源：近似 IR LED(λ = 770nm)。
• 物鏡:CFI60,2.5X–100X , LCD 檢測專用 CR 物鏡。
• 自動對焦模式：連續模式和搜尋模式。
• 對焦範圍：2.5X 物鏡 – 5.5mm 以上；5X 物鏡 – 4.5mm 以上。
• 10X 物鏡 – 1.3mm 以上；20X 物鏡 – 320um 以上。
• 50X 物鏡 – 50um 以上；100X 物鏡 – 10um 以上。
• 對焦時間：小於 0.7 秒(20X 物鏡時在 200um 內無搜尋功能)。
• 對焦精度(重現性)：對焦深度小於 1 / 2。
• 自動對焦特點：使用自動對焦時，能精確調整對焦位置。
• 最小解析度：0.05um。
• 傳輸方式：USB，RS232，paralle I / O。
• 電源需求：100 – 240 V AC；1.0A；50 / 60 Hz。