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關於漢磊
本公司擁有之影像式量測系統、金相顯微鏡系統，目前深獲國內外工業界之肯定與信賴、並為科技業設計世界頂尖之專業量測系統，如PCB印刷電路版之『CT型快速尺寸與影像系統』、TFT-LCD液晶面板產業之『PR型雷射修補專用機』『BH型大行程CNC面板檢測系統』全方位LCD自動分析系統。 AI伺服器客製化量測機
PROJECT
產品介紹
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全自動影像量測儀, MR-系列-C型,影像量測儀,
商品特特:
規格行程 :
300x200x200mm/400x300x200mm
500x400x200mm/600x600x200mm
HIK500萬RGB高解析乙太網路工業攝影機
業界首創軟體支援2448x2048超高解析度
無段倍率鏡頭 : 20x~240X (12:1變倍比)
光壆尺讀值 : 英國Renishaw 0.1um
X/Y軸精度 : 超高精度 2+L/300um
表面/輪廓/同軸光源 : 全自動控制高亮度LED
機構與移動平台採花崗岩設計，更提高機器精度
點、線、圓、弧、距離、高度之量測與公差設定
多種輸出方式／客制化報表／SPC統計分析
選購 : 探針／雷射／光譜共焦雷射系統
規格行程 :
300x200x200mm/400x300x200mm
500x400x200mm/600x600x200mm
HIK500萬RGB高解析乙太網路工業攝影機
業界首創軟體支援2448x2048超高解析度
無段倍率鏡頭 : 20x~240X (12:1變倍比)
光壆尺讀值 : 英國Renishaw 0.1um
X/Y軸精度 : 超高精度 2+L/300um
表面/輪廓/同軸光源 : 全自動控制高亮度LED
機構與移動平台採花崗岩設計，更提高機器精度
點、線、圓、弧、距離、高度之量測與公差設定
多種輸出方式／客制化報表／SPC統計分析
選購 : 探針／雷射／光譜共焦雷射系統
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影像量測儀2.5D,手動/半自動機台-TF-series
規格行程 :
200x100x200mm/300x200x200mm
400x300x200mm/500x400x200mm
HIK500萬RGB高解析乙太網路工業攝影機
業界首創軟體支援2448x2048超高解析度
無段倍率鏡頭 : 20x~125X (6.5:1變倍比)
光壆尺讀值 : 英國Renishaw 0.5um
X/Y軸精度 : 超高精度 3+L/300um
表面/輪廓/同軸光源 : 全自動控制高亮度LED
機構與移動平台採花崗岩設計，更提高機器精度
點、線、圓、弧、距離、高度之量測與公差設定
多種輸出方式／客制化報表／SPC統計分析
選購 : 探針／雷射／光譜共焦雷射系統
200x100x200mm/300x200x200mm
400x300x200mm/500x400x200mm
HIK500萬RGB高解析乙太網路工業攝影機
業界首創軟體支援2448x2048超高解析度
無段倍率鏡頭 : 20x~125X (6.5:1變倍比)
光壆尺讀值 : 英國Renishaw 0.5um
X/Y軸精度 : 超高精度 3+L/300um
表面/輪廓/同軸光源 : 全自動控制高亮度LED
機構與移動平台採花崗岩設計，更提高機器精度
點、線、圓、弧、距離、高度之量測與公差設定
多種輸出方式／客制化報表／SPC統計分析
選購 : 探針／雷射／光譜共焦雷射系統
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MX-金相顯微鏡,光學顯微鏡
商品說明:
光學系統 : 無限遠色差校正光學系統
目鏡 : 超高解析視野平場目鏡10X/25mm，視度可調
物鏡 : 明暗視野半複消色差金相物鏡5X、10X、20X、50X
鼻輪 : 明暗視野5孔電動
基座：
100x100mm, 150x100mm, 200x150mm, 355x300mm。
粗調行程25mm, 微調精度0.001mm。
防止下滑的調節鬆緊裝置和隨機上限位元裝置。
內置100-240V寬電壓系統，採用數字調光，具有光強設定與復位功能。
光學系統 : 無限遠色差校正光學系統
目鏡 : 超高解析視野平場目鏡10X/25mm，視度可調
物鏡 : 明暗視野半複消色差金相物鏡5X、10X、20X、50X
鼻輪 : 明暗視野5孔電動
基座：
100x100mm, 150x100mm, 200x150mm, 355x300mm。
粗調行程25mm, 微調精度0.001mm。
防止下滑的調節鬆緊裝置和隨機上限位元裝置。
內置100-240V寬電壓系統，採用數字調光，具有光強設定與復位功能。
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CX43M金相顯微鏡,光學顯微鏡
AIXON CX43M金相顯微鏡
產品介紹
Product introduction
CX43M產品介紹
全新 CX43M 研究級金相顯微鏡集成了明場，偏光，DIC微分干涉等多種觀察功能，從外觀到性能都緊跟國際領先設計風向，致力於拓展工業領域全新格局。
RX43系列研究級明暗場金相顯微鏡採用了模組化設計，為廣泛的材料學和工業應用提供了多樣化的解決方案。
RX43M研究級明暗場金相顯微鏡的設計中融入了便於理解操作的功能設計
規格:
1. 光學系統 無限遠色差校正光學系統
2. 觀察筒 倒像，無限遠鉸鏈三目觀察筒，瞳距調節範圍:50mm～76mm；
3. 目鏡 高眼點大視野平場目鏡SWH10X23mm（視度可調）
物鏡 專業無限遠半複消色差明暗場金相物鏡5x、10x、20x、50x、(選配100x） 5X物鏡NA0.15,WD14.35mm 10X物鏡NA0.30,WD8.5mm 20X物鏡NA0.45,WD3mm 50X物鏡NA0.75,WD3.0mm 100X物鏡NA0.90,WD1 / 長工100X物鏡NA0.80,WD3.0(選配)
4. 物鏡轉換器 5孔明暗場手動物鏡轉換器（帶DIC插槽）
5. 機架 透反兩用機架，低手位粗微同軸調焦機構，粗調行程27mm，微調精度0.001mm。帶有防止下滑的調節鬆緊裝置和隨機上限位元裝置。帶平臺位置上下調節機構，最大樣品高度40mm
6. 載物台 3X2雙層機械移動平臺，低手位X、Y方向同軸調節；平臺面積210X175mm，工作臺面：135X125mm，玻璃檯面：101X101mm，移動範圍：75mmX52mm可配反射用金屬載物台板，透反兩用玻璃載物台板
右手位4英寸機械平臺，移動行程：105mmX102mm機械平臺，X、Y方向同軸調節；可帶透射系統擋光板，帶玻璃載物台板(選配)
7. 上照明系統 自我調整寬電壓，反射燈室，單顆大功率10WLED，暖色，柯拉照明，帶視場光闌與孔徑光闌，中心可調。
8. 下照明系統 自我調整寬電壓，透射燈室，單顆大功率10WLED，暖色
9. 聚光鏡 透射用消色差聚光鏡(N.A0.9)，帶可變孔徑光闌，中心可調 其他選購附件 攝影攝像附件：、0.5X C介面，可調焦；(1X、0.65X選配) 4K高清成像系統、USB3.0電腦版成像系統相機 高精度測微尺，格值0.01mm 軟體（專業測量系統、金相分析系統、
產品介紹
Product introduction
CX43M產品介紹
全新 CX43M 研究級金相顯微鏡集成了明場，偏光，DIC微分干涉等多種觀察功能，從外觀到性能都緊跟國際領先設計風向，致力於拓展工業領域全新格局。
RX43系列研究級明暗場金相顯微鏡採用了模組化設計，為廣泛的材料學和工業應用提供了多樣化的解決方案。
RX43M研究級明暗場金相顯微鏡的設計中融入了便於理解操作的功能設計
規格:
1. 光學系統 無限遠色差校正光學系統
2. 觀察筒 倒像，無限遠鉸鏈三目觀察筒，瞳距調節範圍:50mm～76mm；
3. 目鏡 高眼點大視野平場目鏡SWH10X23mm（視度可調）
物鏡 專業無限遠半複消色差明暗場金相物鏡5x、10x、20x、50x、(選配100x） 5X物鏡NA0.15,WD14.35mm 10X物鏡NA0.30,WD8.5mm 20X物鏡NA0.45,WD3mm 50X物鏡NA0.75,WD3.0mm 100X物鏡NA0.90,WD1 / 長工100X物鏡NA0.80,WD3.0(選配)
4. 物鏡轉換器 5孔明暗場手動物鏡轉換器（帶DIC插槽）
5. 機架 透反兩用機架，低手位粗微同軸調焦機構，粗調行程27mm，微調精度0.001mm。帶有防止下滑的調節鬆緊裝置和隨機上限位元裝置。帶平臺位置上下調節機構，最大樣品高度40mm
6. 載物台 3X2雙層機械移動平臺，低手位X、Y方向同軸調節；平臺面積210X175mm，工作臺面：135X125mm，玻璃檯面：101X101mm，移動範圍：75mmX52mm可配反射用金屬載物台板，透反兩用玻璃載物台板
右手位4英寸機械平臺，移動行程：105mmX102mm機械平臺，X、Y方向同軸調節；可帶透射系統擋光板，帶玻璃載物台板(選配)
7. 上照明系統 自我調整寬電壓，反射燈室，單顆大功率10WLED，暖色，柯拉照明，帶視場光闌與孔徑光闌，中心可調。
8. 下照明系統 自我調整寬電壓，透射燈室，單顆大功率10WLED，暖色
9. 聚光鏡 透射用消色差聚光鏡(N.A0.9)，帶可變孔徑光闌，中心可調 其他選購附件 攝影攝像附件：、0.5X C介面，可調焦；(1X、0.65X選配) 4K高清成像系統、USB3.0電腦版成像系統相機 高精度測微尺，格值0.01mm 軟體（專業測量系統、金相分析系統、
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3D藍光掃描儀,MEDIT T510-T710 全自動桌上型掃描機
產品特點Fectures
自動升降功能
500萬畫素鏡頭
掃描精度高達4微米
全系列支援彩色掃描
超大視野取像無盲點
STL.PLY.OBJ開放式系統
自動升降功能
500萬畫素鏡頭
掃描精度高達4微米
全系列支援彩色掃描
超大視野取像無盲點
STL.PLY.OBJ開放式系統
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SH700 4K 影像量測儀,2D影像量測,2D顯微鏡,3D觀察儀
SH700-4K 影像良儀
機台特色:
13.3吋大螢幕4K 3D網路一體機。
採用Sony 1/1.8inch 影像晶片。
方便觀察微小零件，支援拍照錄影存檔
內建量測功能，可即時測量影像尺寸大小
可透過網路傳送照片、檔案至電腦
機台運用:外觀瑕疵檢測
適用行業:
Semiconductor，LCD，PCB，電子零件
實驗室檢查，金屬焊接，金屬加工
機台特色:
13.3吋大螢幕4K 3D網路一體機。
採用Sony 1/1.8inch 影像晶片。
方便觀察微小零件，支援拍照錄影存檔
內建量測功能，可即時測量影像尺寸大小
可透過網路傳送照片、檔案至電腦
機台運用:外觀瑕疵檢測
適用行業:
Semiconductor，LCD，PCB，電子零件
實驗室檢查，金屬焊接，金屬加工
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金相顯微鏡,光學顯微鏡,EZ-1000 軟體,
金相顯微,EZ-1000 軟體
軟 體 功 能
1. 包括了拍照、錄影、曝光、增益、白平衡（自動，手動，ROI）、顏色調整,銳度與3D降噪控制
2. 幾何量測 :點，任意線長，平行線距，重直線距，圓，弧，矩形橢圓，圓環，雙圓 ，多邊形，角度….等量測。
3. 圖像比對，圖像拚接，3D圖像融合(EDF景深融合)
4. 量測數據與圖片可匯出EXCEL製作報表。
軟 體 功 能
1. 包括了拍照、錄影、曝光、增益、白平衡（自動，手動，ROI）、顏色調整,銳度與3D降噪控制
2. 幾何量測 :點，任意線長，平行線距，重直線距，圓，弧，矩形橢圓，圓環，雙圓 ，多邊形，角度….等量測。
3. 圖像比對，圖像拚接，3D圖像融合(EDF景深融合)
4. 量測數據與圖片可匯出EXCEL製作報表。
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NIKON LV-150,NIKON LV150NL,LV150NA 金相顯微鏡
NIKON LV-150,NIKON LV150NL,LV150NA 金相顯微鏡
特點
• 比較傳統只用對比偵測方式 LV - DAF 對焦範圍更大；特別是應用於 LCD 基板，可以更快速對焦。
• LV - DAF 使用白色的 LED 光源，可隨著待測物對光線反射率的強弱而自行調整自動對焦之燈源亮度。
• 提供明視野，暗視野及干涉相位差之觀察，可選擇反射式(上光源)及穿透式(上光源)之燈源。
• 自動程式化調整，可依照產品種類之不同設定 10 組最適合之參數狀態；設定簡易快速。
• LV - DAF 可經由 USB 或 RS232 port 由電腦控制或由 Nikon DS - L4 數位照相系統驅動。
• LV - DAF 可搭配其他 Nikon LV 系列產品使用；當結合 Nikon 特有的 LV - ECON 使用時，可觀察特定之待測物並將其調整至最適狀態。
• Nikon 提供 SDK(software development kit：軟體開發套件)，可輕易整合或支援不同系統及客製化機台使用。
規格
偵測系統：Nikon 複合式自動對焦系統結合裂隙光學投影及對比偵測。
• 自動對焦光源：近似 IR LED(λ = 770nm)。
• 物鏡:CFI60,2.5X–100X , LCD 檢測專用 CR 物鏡。
• 自動對焦模式：連續模式和搜尋模式。
• 對焦範圍：2.5X 物鏡 – 5.5mm 以上；5X 物鏡 – 4.5mm 以上。
• 10X 物鏡 – 1.3mm 以上；20X 物鏡 – 320um 以上。
• 50X 物鏡 – 50um 以上；100X 物鏡 – 10um 以上。
• 對焦時間：小於 0.7 秒(20X 物鏡時在 200um 內無搜尋功能)。
• 對焦精度(重現性)：對焦深度小於 1 / 2。
• 自動對焦特點：使用自動對焦時，能精確調整對焦位置。
• 最小解析度：0.05um。
• 傳輸方式：USB，RS232，paralle I / O。
• 電源需求：100 – 240 V AC；1.0A；50 / 60 Hz。
運用
金相顯微鏡的用途 無論是光學型還是數位型，金相顯微鏡幾乎可用於任何需要觀察光滑金屬表面的行業或研究領域。 包括冶金學、礦物學和寶石學。 製造商還可利用數位或光學金相顯微鏡來檢查材料和元件是否有缺陷或磨損跡象
特點
• 比較傳統只用對比偵測方式 LV - DAF 對焦範圍更大；特別是應用於 LCD 基板，可以更快速對焦。
• LV - DAF 使用白色的 LED 光源，可隨著待測物對光線反射率的強弱而自行調整自動對焦之燈源亮度。
• 提供明視野，暗視野及干涉相位差之觀察，可選擇反射式(上光源)及穿透式(上光源)之燈源。
• 自動程式化調整，可依照產品種類之不同設定 10 組最適合之參數狀態；設定簡易快速。
• LV - DAF 可經由 USB 或 RS232 port 由電腦控制或由 Nikon DS - L4 數位照相系統驅動。
• LV - DAF 可搭配其他 Nikon LV 系列產品使用；當結合 Nikon 特有的 LV - ECON 使用時，可觀察特定之待測物並將其調整至最適狀態。
• Nikon 提供 SDK(software development kit：軟體開發套件)，可輕易整合或支援不同系統及客製化機台使用。
規格
偵測系統：Nikon 複合式自動對焦系統結合裂隙光學投影及對比偵測。
• 自動對焦光源：近似 IR LED(λ = 770nm)。
• 物鏡:CFI60,2.5X–100X , LCD 檢測專用 CR 物鏡。
• 自動對焦模式：連續模式和搜尋模式。
• 對焦範圍：2.5X 物鏡 – 5.5mm 以上；5X 物鏡 – 4.5mm 以上。
• 10X 物鏡 – 1.3mm 以上；20X 物鏡 – 320um 以上。
• 50X 物鏡 – 50um 以上；100X 物鏡 – 10um 以上。
• 對焦時間：小於 0.7 秒(20X 物鏡時在 200um 內無搜尋功能)。
• 對焦精度(重現性)：對焦深度小於 1 / 2。
• 自動對焦特點：使用自動對焦時，能精確調整對焦位置。
• 最小解析度：0.05um。
• 傳輸方式：USB，RS232，paralle I / O。
• 電源需求：100 – 240 V AC；1.0A；50 / 60 Hz。
運用
金相顯微鏡的用途 無論是光學型還是數位型，金相顯微鏡幾乎可用於任何需要觀察光滑金屬表面的行業或研究領域。 包括冶金學、礦物學和寶石學。 製造商還可利用數位或光學金相顯微鏡來檢查材料和元件是否有缺陷或磨損跡象